M30-15JK-W200耐高溫接近開關(guān)

M30-15JK-W200耐高溫接近開關(guān)

一、產(chǎn)品簡(jiǎn)介

耐高溫接近開關(guān)M30-15JK-W200,交流兩線常開溫度可適用200度的工作環(huán)境，開關(guān)內(nèi)腔充以樹脂其全封閉又稱無觸點(diǎn)接近開關(guān)，是理想的電子開關(guān)量傳感器。當(dāng)金屬檢測(cè)體接近開關(guān)的感應(yīng)區(qū)域，開關(guān)就能無接觸，無壓力、無火花、迅速發(fā)出電氣指令，準(zhǔn)確反應(yīng)出運(yùn)動(dòng)機(jī)構(gòu)的位置和行程，即使用于一般的行程控制，其定位精度、操作頻率、使用壽命、安裝調(diào)整的方便性和對(duì)惡劣環(huán)境的適用能力，是一般機(jī)械式行程開關(guān)所不能相比的。它廣泛地應(yīng)用于機(jī)床、冶金、化工、輕紡和印刷等行業(yè)。在自動(dòng)控制系統(tǒng)中可作為限位、計(jì)數(shù)、定位控制和自動(dòng)保護(hù)環(huán)節(jié)。接近開關(guān)具有使用壽命長(zhǎng)、工作可靠、重復(fù)定位精度高、無機(jī)械磨損、無火花、無噪音、抗振能力強(qiáng)等特點(diǎn)。

耐高溫接近開關(guān)M30-15JK-W200用于高溫惡劣環(huán)境下檢測(cè)，定位，計(jì)數(shù)等。耐高溫接近開關(guān)可長(zhǎng)期在高溫-25--+200℃環(huán)境穩(wěn)定運(yùn)行，現(xiàn)已廣泛用于，鋼鐵、冶金、鑄造等高溫自動(dòng)化控制領(lǐng)域。通過硅膠特質(zhì)的電纜及耐高溫芯片安然無憂的為客戶解決高溫現(xiàn)場(chǎng)問題。

二、產(chǎn)品應(yīng)用行業(yè)

鋼鐵廠、電廠及類似高溫行業(yè)，和高溫環(huán)境、高溫金屬物體

三、光電開關(guān)和接近開關(guān)的區(qū)別有如下：

1、接近開關(guān)只會(huì)對(duì)金屬有感應(yīng)，但對(duì)人、塑料等物體無法感應(yīng)。而光電開關(guān)可以對(duì)大部分物體有感應(yīng)，使用范圍更廣。

2、光電開關(guān)和接近開關(guān)檢測(cè)物體的方式也是不同的，接近開關(guān)依靠其頭部的檢測(cè)頭來感應(yīng)物體的存在，光電開關(guān)則根據(jù)光信號(hào)來判斷物體的存在。

3、接近開關(guān)對(duì)于容易受到空間限制和物體材質(zhì)的限制，它只對(duì)金屬有感應(yīng)。而光電開關(guān)不分金屬和非金屬，使用范圍更靈活。

相對(duì)于整個(gè)行業(yè)，的發(fā)展前景將會(huì)更會(huì)廣闊，目前在光電行業(yè)，意普的光電開關(guān)，比如安全光柵，是比較的，行業(yè)內(nèi)一些規(guī)范標(biāo)準(zhǔn)，意普都有參與制定。

四、在選型的過程中，什么場(chǎng)合下用光電開關(guān)，什么場(chǎng)合下用接近開關(guān)呢？

當(dāng)檢測(cè)開關(guān)不便于靠近檢測(cè)物體時(shí)或靠近被檢測(cè)物體易被損壞時(shí)、空間受*、被測(cè)物體較小時(shí)，可使用光電開關(guān)，它不分金屬和非金屬。要注意的是，根據(jù)光電開關(guān)的接收管接收光源的有無來決定開關(guān)是否動(dòng)作，它分為亮通型和暗通型，根據(jù)輸出電路的形式，它還分有PNP型和NPN型；

當(dāng)檢測(cè)開關(guān)便于接近被測(cè)物體且不易被損壞時(shí)，檢測(cè)金屬物體使用電感式，檢測(cè)非金屬物體使用電容式，根據(jù)輸出電路的形式，它也分有PNP型和NPN型；

有的檢測(cè)開關(guān)還有調(diào)整靈敏度的旋鈕；

光電開關(guān)和接近開關(guān)，它們都屬于傳感器，但在使用及用途上存在一些區(qū)別。

接近開關(guān)主要用在高速計(jì)數(shù)、檢測(cè)金屬體、測(cè)速、檢測(cè)零部件尺寸以及無觸點(diǎn)式按鈕等。光電開關(guān)應(yīng)用在光電安全防護(hù)等領(lǐng)域。

光電開關(guān)主要是把輸入的電流在發(fā)射器上轉(zhuǎn)為光信號(hào)發(fā)出，接收器根據(jù)接收到的光的強(qiáng)弱和數(shù)量對(duì)目標(biāo)物體進(jìn)行探測(cè)。